|
|
-
Насирдинова Г.К., Сатывалдиев А.С., Сабыркулова А.Ж.
-
Насирдинова Г.К., Сатывалдиев А.С., Сабыркулова А.Ж.G.K. Nasirdinova, A.S. Satyvaldiev, A.Zh. Sabyrkulova
-
None
-
ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ НАНОДИСПЕРСНЫХ МЕТАЛЛОВ ОСАЖДЕННЫХ НА СИЛИКАГЕЛЕ МЕТОДОМ ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННОЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ СПЕКТРОСКОПИИ
-
СИЛИКАГЕЛГЕ ОТУРГУЗУЛГАН НАНОДИСПЕРСТҮҮ МЕТАЛЛДАРДЫ ЭНЕРГОДИСПЕРСТИК РЕНТГЕНДИК СПЕКТРОСКОПИЯ МЕТОДУ МЕНЕН АНЫКТОО
-
DETERMINATION OF THE CONTENT OF NANODISPERSED METALS DEPOSITED ON SILICA GEL USING ENERGY DISPERSIVE X-RAY SPECTROSCOPY
-
В нанотехнологии для определения содержания эле-мен¬тов в составе наноматериалов широко используется метод энергодисперсионной рентгеновской спектроско-пии, который основан на регистрации и анализе энерге¬ти-че¬ских спектров характеристического рентгеновского из-лу¬чения, возбуждаемого проходящими через образец элек-тро¬нами. Методами энергодисперсионной рентгенов¬ской и эмиссионной спектроскопии установлено, что при вос-ста¬новлении ионов меди, никеля и серебра, адсор-бированных на силикагеле происходит осаждения нано-дисперсных метал¬лов на силикагеле. Согласно данным рентгено¬спектраль¬ного микроанализа на поверх¬ности силикагеля содержание меди составляет 9,1%, а никеля и серебра соответственно – 11,1% и 21,3%. По методу эмиссионной спектроскопии содержание меди и серебра на силикагеле составляет по 9,82 мг, что соответствует выходу металлов 98,2%, а вы¬ход никеля немного ниже и соответственно на 1 г сили¬ка¬геле содер¬жится 9,42 мг основного металла и 0,17 мг се¬реб¬ра.
-
Наноматериалдардын курамындагы элементтердин санын аныктоо үчүн, үлгүлөр аркылуу өткөн электрондор дүүлүктүргөн мүнөздүү рентгендик нурлануунун энерге¬ти-ка¬лык спектрлерин каттоого жана анализдөөгө негиз¬дел-ген, энергодисперстик рентгендик спектроскопия ме¬то¬ду кеңири колдонулат. Силикагелде адсорбцияланган жез¬дин, никелдин жана күмүштүн иондорун калыбына кел-тиргенде силикагелдин бетинде нанодисперстүү металл-дардын пайда болушу энергодисперстик рентгендик жана эмис¬сия¬лык спектроскопия методдору менен аныкталды. Рентге¬но¬спектралдык микроанализ методу боюнча сили-ка¬гелдин бе¬тиндеги жездин саны 9,1%, ал эми никель менен күмүш¬түн саны 11,1% жана 21,3% түзөт. Эмис-сиялык спектро¬ско¬пия методу боюнча силикагелдеги жез менен күмүштүн саны 9,82 мг түзөт, бул металлдардын 98,2% чыгышына туура келет, ал эми никелдин чыгышы мындан бир аз тө¬мөн болот жана 1 г силикагелдеги негизги металл¬дын саны 9,42 мг жана күмүштүн саны 0,17 мг түзөт.
-
In nanotechnology, the method of energy-dispersive X-ray spectroscopy, which is based on recording and analyzing the energy spectra of characteristic X-rays emitted by electrons passing through a sample, is widely used to determine the content of elements in the composition of nanomaterials. Using the methods of energy dispersive X-ray and emission spectroscopy, it has been established that during the reduction of copper, nickel and silver ions adsorbed on silica gel, nano dispersed metals are deposited on silica gel. According to X-ray microanalysis on the surface of silica gel, the copper content is 9.1%, and nickel and silver, respectively, 11.1% and 21.3%. By the method of emission spectroscopy, the content of copper and silver on silica gel is 9.82 mg, which corresponds to a metal yield of 98.2%, and the nickel yield is slightly lower and, accordingly, 9.42 mg of the base metal and 0.17 mg of silver are contained in 1 g of silica gel.
-
нанодисперсные металлы, осаж¬де¬ние, силикагель, энергодисперсионная рентгеновская спек¬тро¬скопия, эмиссионная спектроскопия.
-
нанодисперстүү металлдар, отургу¬зуу, силикагель, энергодисперстик рентгендик спектроско¬пия, эмиссиялык спектроскопия.
-
nanodispersed metals, precipitation, silica gel, energy dispersive X-ray spectroscopy, emission spectroscopy.
Авторлор жөнүндө маалымат
-
Сатывалдиев Абдураим Сатывалдиевич,
Кыргызский государственный университет
имени И.Арабаева, г.Бишкек, КР, доктор
химических наук, профессор.
Насирдинова Гулзада Калиевна, Кыргызский
государственный университет имени
И.Арабаева, г.Бишкек, Кыргызская Республика,
кандидат химических наук, доцент.
Сабыркулова Айзада Жаныбековна, Кыргызский
государственный университет имени
И.Арабаева, г.Бишкек, Кыргызская Республика,
магистрант.
-
Сатывалдиев Абдураим Сатывалдиевич,
И.Арабаев атындагы Кыргыз мамлекеттик
университети, Бишкек шаары, Кыргыз
Республикасы, химия илимдеринин доктору,
профессор.
Насирдинова Гулзада Калиевна, И.Арабаев
атындагы Кыргыз мамлекеттик университети,
Бишкек шаары, Кыргыз Республикасы, химия
илимдеринин кандидаты, доцент.
Сабыркулова Айзада Жаныбековна, И.Арабаев
атындагы Кыргыз мамлекеттик университети
Бишкек шаары, Кыргыз Республикасы,
магистрант.
-
Abduraim Satyvaldiev, Kyrgyz state University by name
of I.Arabaev Bishkek, Kyrgyz Republic, doctor of
chemical sciences, professor.
Gulzada Nasirdinova, Kyrgyz state University by name
of I.Arabaev Bishkek, Kyrgyz Republic, candidate
of chemical sciences, associate professor.
Aizada Sabyrkulova, Kyrgyz State University
by name of I.Arabaev Bishkek, Kyrgyz Republic,
master's student.
10.26104/NNTIK.2019.45.557
Насирдинова Г.К., Сатывалдиев А.С., Сабыркулова А.Ж. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ НАНОДИСПЕРСНЫХ МЕТАЛЛОВ ОСАЖДЕННЫХ НА СИЛИКАГЕЛЕ МЕТОДОМ ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННОЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ СПЕКТРОСКОПИИ. Наука, новые технологии и инновации Кыргызстана. 2019. №. 7. C. 56-59
|
